逆设计的介绍
逆设计 #
本节将介绍逆设计(Inverse Design)的基本原理、应用流程、优化方式及其在光子器件设计中的典型应用。
逆设计是一类基于优化算法的自动化结构求解方法,可在高维设计空间中搜索满足目标性能的光子器件结构。随着集成光学器件在复杂度、尺寸及性能指标上的要求不断提高,传统依赖人工经验的设计模式已难以满足需求。逆设计通过数学优化加物理仿真的闭环迭代,实现高效、高精度的器件自动设计。
逆设计的基本原理 #
逆设计的目标是通过自动化设计过程,减轻设计人员的负担,提高设计效率和准确性。首先,定义一个品质因数(FOM,Figure of Merit)作为优化目标(如插入损耗、耦合效率等关键性能指标)。然后,通过仿真求解器(如 FDTD)评估当前结构的实际性能,并利用数学优化算法自动调整设计参数,直到满足性能要求。

在这一过程中,优化算法通过不断调整参数,探索整个设计空间,从而找到最优解。该过程基于物理原理,并结合现代优化技术,如梯度优化和伴随法,以确保设计的高效性和高精度。
梯度优化
在逆设计中,梯度优化是常用的优化方法之一。通过计算设计参数的梯度,优化算法可以沿着性能最优的方向快速收敛。传统梯度计算的计算量巨大,例如若有 1000 个设计变量,需对每个变量单独扰动并重复 1000 次仿真才能获取梯度,计算成本高昂。伴随法正是为了解决这一问题。
伴随法
伴随法是一种用于高效计算梯度的技术。伴随法通过将原始微分方程转化为对偶空间中的形式,使求解过程简化,仅需要进行两次仿真(正向仿真和伴随仿真),便可以计算出各个参数的梯度,从而加速优化过程,大幅降低计算开销。
以下是伴随法的一些基本原理和应用方法:
以参数S为例,其梯度影响因素可以表示为:
∇S=(∂p1∂S,...,∂pn∂S)
在FDTD算法中,该梯度计算过程可转化为线性代数方程,其中 x 代表仿真区域内的所有电磁场分量。
∂p∂S=∂x∂S∂p∂x
进一步的对参数p求偏导,并引入向量 V 可以得到梯度的表达式:
∂p∂S=V(∂p∂b−∂p∂Ax)
上述表达式的含义为:进行一次正向仿真时,可以得到仿真区域内的所有场 x ,该场由特定器件定义的源 b 产生。随后进行一次伴随仿真,此时 伴随源代替了正向仿真中的源 b ,可以计算得到 V :
ATVT=∂x∂ST
因此梯度可以在由上述两次仿真后计算得到。
逆设计的工作流程 #
逆设计的典型工作流程包含以下几个步骤:
仿真设置
仿真是逆设计的核心组成部分。用户首先配置仿真环境,设定光学器件的工作频率、材料属性、几何约束等基本参数。
设计参数化
在逆设计中,选择待优化区域及其参数化方式至关重要。在软件中,用户可以选择形状优化方式,定义待优化器件的设计区域及参数化方式。
选择优化目标
用户根据设计需求选择适当的品质因数(FOM)。FOM可以是任何与光子器件性能相关的量,如功率传输、带宽、损耗等。在实际应用中,FOM通常通过物理仿真来计算。
优化执行
初始化优化器后,算法自动遍历设计空间,逐步调整设计参数以优化性能。通过梯度优化或伴随法,高效计算得到各参数梯度,加速优化过程,最终收敛得到最佳解。
结果验证与调整
优化完成后,用户可以验证设计是否满足性能要求,必要时进一步调整设计参数。
simopt模块
目前软件内置了simopt模块,可直接调用相关对象,快速完成逆设计设置,以下以用于捕获导模的功率耦合模块 ModeMatch 模块为例介绍对应仿真工程的基本设置。
该模块需要在工程中包含以下对象(其对应的对象名称不可修改):
- 模式光源(source):作为正向仿真的输入源,其尺寸大小应有足够大的跨度。
- 作为形状优化的FDFP监视器(opt_fields):该监视器记录的电磁场用于计算形状优化,在伴随法中作为正向仿真的结果。
- 计算功率耦合的FDFP监视器(fom):该监视器的电磁场可以用于计算目标FOM参数,同时允许在一个工程中建立多个FOM监视器,在伴随仿真中的伴随源将替代该监视器。
- 自定义网格(Mesh):定义优化区域,确保该区域为均匀网格,形状优化的FDFP监视器应与网格区域一致。
- 形状优化对象:在仿真中,优化对象结构应采用 polygon 类型进行构建。

以上为一个符合ModeMatch模块设计的一个工程示例, source 为模式光源作为正向仿真的输入源; opt_fields 监视器作为形状优化的FDFP监视器; fom 监视器作为计算FOM参数的FDFP监视器。
ModeMatch 的计算的宽带品质因数表达式为:
FOM=(λ2−λ11∫λ1λ2∣T0(λ)∣pdλ)1/p−(λ2−λ11∫λ1λ2∣T(λ)−T0(λ)∣pdλ)1/p
其中, T0 为目标透射率,T为实际仿真中模式扩展的透射系数, λ1 和 λ2 分别为波长范围的最小值和最大值,p则为广义p-范数的参数值。
逆设计支持的优化结构类型 #
逆设计通过定义待优化的区域与参数来实现器件性能优化。本节将介绍两种主要的优化方法:形状优化与拓扑优化。
形状优化
形状优化是一种在已有确定拓扑结构的基础上,对其几何边界进行精细化调整的设计方法。用户需定义器件的原始形状,并将关键的几何参数(如边缘坐标、曲率等)设置为优化变量,由优化算法自动寻找最优参数组合。这种方法适用于已有较好基础的设计进行性能提升。
其主要流程为:首先,在软件中使用 polygon 类型构建初始的器件结构。随后,选取对电磁性能有显著影响的几何特征,将其参数化作为优化变量。优化算法通过自动调整这些变量并仿真,最终找到能使品质因数最优的几何参数组合。借助 Python API 接口,实现该流程需要调用 FunctionDefinedPolygon 系列函数,具体请参考Y分束器的逆向设计。

以下为形状优化操作实例展示:

拓扑优化
拓扑优化是一种更加灵活的优化方法。用户仅需定义可优化区域和涉及的材料,优化算法便能在整个设计空间内寻找材料的最佳分布,而不依赖于预设的几何形状。该方法能生成非常复杂且高性能的设计,但由于其自由度极高,通常需要在优化中引入制造约束(如最小尺寸限制),以确保最终设计具备可制造性。
现已支持相关二维拓扑优化器,其核心流程如下:首先,将优化区域内的每一个FDTD网格离散为一个代表材料的设计参数。根据初始条件,这些参数表现为最小和最大参数之间连续变化的灰度值。接着,进行二值化处理,将FOM取最小或最大参数进行仿真。利用伴随仿真获得 FOM 对所有参数的梯度。根据此梯度更新设计参数,最终获得最佳设计。在此步骤中,需要持续施加约束,防止结构的特征尺寸超出实际的制造要求。借助 Python API 接口,实现此流程需要调用拓扑优化系列函数 TopologyOptimization2D ,具体使用方法可参见Inverse Design。

以下为拓扑优化操作实例展示:

应用场景 #
逆设计广泛应用于多个光子器件领域,包括:
- 光子集成电路(Photonic Integrated Circuits, PICs)
- 微型光学器件设计
- 光波导设计
- 光束分配器和滤波器设计
借助逆设计技术,工程师能够从零开始设计高性能的光子器件,避免依赖繁琐的手动调整和经验公式,提升设计效率和质量。

